| Proizvođač i model: | TESCAN VEGA 5136MM |
| Namjena: | Pretražni elektronski mikroskop se koristi za promatranje mikrostrukture / prijelomnih površina metalnih i nemetalnih materijala te određivanje kemijskog sastava odabranih pozicija (analiza u točci, analiza po liniji, mapiranje distribucije kemijskih elemenata). |
| Kratki opis metode: | Pretražni elektronski mikroskop je tip elektronskog mikroskopa koji se koristi za promatranja pri velikim povećanjima a bazira se na skeniranju površine uzorka s fokusiranim snopom elektrona. |
| Tehničke značajke: | 220-240V/50Hz |
| Tip i priprava uzorka: | Mogude snimanje uzoraka sa/bez prethodne metalografske pripreme. |
| Laboratorij: | Laboratorij za fiziku i strukturna ispitivanja |
| Operater: |
|
Metalurški fakultet u Sisku,
Sveučilište u Zagrebu,
Aleja narodnih heroja 3,
44103 Sisak
Sadržaj ove internet stranice isključiva je odgovornost Metalurškog fakulteta Sveučilišta u Zagrebu.
